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吉时利针对4X4 MIMO射频测试提供全套解决方案
http://www.cnele.com  更新时间:2007年10月26日  来源:电子工程专辑
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吉时利仪器公司(Keithley)近日发布4X4 MIMO(多输入多输出)射频测试解决方案,该方案可用于下一代射频通信设备与器件的研发与生产测试。吉时利本款MIMO射频测试系统包括最新2920型矢量信号发生器(VSG)、2820型矢量信号分析仪(VSA)、2895型MIMO同步单元和功能强大的MIMO信号分析软件。

本款MIMO测试系统具有多种最新功能:

  • 支持4X4 MIMO应用
  • 支持多种商用通信标准,包括移动蜂窝、WiMAX和WLAN
  • ±1纳秒的信号采样同步功能
  • 峰-峰信号采样抖动低于1纳秒
  • 峰-峰射频载波相位抖动低于1度

由于具备支持多部件紧同步的高性能测量指标,新推出的吉时利系统可以实现某些对信号精度要求非常苛刻的MIMO测量,例如802.11n 40MHz WLAN MIMO和802.16e Wave 2 Mobile WiMAX。若需了解更多关于新型4X4 MIMO射频测试系统或者其他射频测试解决方案的详细信息和价格,请访问www.keithley.com/pr/077。

MIMO技术正日渐普及,其能够使用多种射频波段进行数据收发。在射频通信设备中,利用MIMO技术无需增加额外带宽就能提高数据吞吐率。吉时利4X4 MIMO测试系统通过简单软件升级就能够测试目前结构最复杂的一些信号,包括WiMAX Wave 2、4G LTE(长期演进)和UMB(超移动宽带),为产品研发提供了最先进的高性能MIMO测试平台。

高达6GHz的高精度和可重复性测量能力

构成吉时利MIMO射频测试解决方案核心设备的是新推出的射频信号发生器和射频信号分析仪,其支持扩展频率范围高达6GHz。包括吉时利日益丰富的射频系列产品的最新成员——2920型矢量信号发生器。2920有两种可选配置,最高支持4GHz或6GHz的频率,最低可产生10MHz频率的信号。另外,波形存储器深度高达100M次采样、带宽为80MHz的可选任意波形发生器能满足用户对各种商用通信信号的测试需求,包括GSM、EDGE、W-CDMA、cdma2000、SISO WLAN,以及业界最复杂的802.11n 40MHz WLAN MIMO信号。

吉时利新推出2820型矢量信号分析仪以40MHz带宽作为4GHz或6GHz配置下的标准带宽。2820测试功能非常全面,能测试多种信号,包括GSM、EDGE、W-CDMA (上行链路/下行链路)和cdma2000信号,以及多种WLAN信号,包括MIMO和SISO配置下的802.11n 40MHz WLAN MIMO信号。

吉时利MIMO射频测试解决方案所具备的信号紧同步功能以及极低的采样抖动和射频载波相位抖动特性,为用户提供高精度和可重复的测量能力,确保用户获得较高产品质量和生产成品率。此外,2820和2920可以配置为2通道、3通道或者4通道结构。这些具有双重功能的仪器既可用作独立的测试仪,也可用做4X4 MIMO测试系统的一部分,因此用户在测试过程中不必再使用单独的信号分析仪或者信号发生器。

MIMO同步单元具备精密、稳定的对准功能

2895型MIMO同步单元能够为测试系统提供高度同步的信号,最高可支持4X4的MIMO测试同步。这使测试系统具备能够在多达4台信号分析仪与发生器之间实现高度精确和稳定的对准功能。2895将公共信号,例如局部晶振、公共时钟和精密触发器,分布到与系统相连的所有测试仪中,支持精确的、可重复的OFDM(正交频分多路复用)MIMO信号的测量。

业界领先的软件分析工具

吉时利新推出的还有280111型WLAN 802.11n MIMO信号分析软件,是目前业界领先的基于PC的分析工具,支持单通道或者多通道的802.11x信号分析。这个快速而强大的软件工具提供了多种丰富的测量套件,能够分析所有802.11x信号,而且能够支持4X4 MIMO通道配置。该软件用户接口易于配置,通过SCPI命令集可快速、方便地连接测试系统。

吉时利4X4 MIMO射频测试系统是从事WLAN和WiMAX设计与研发工作的研发工程师和研究人员的理想选择。此外,涉及3GPP移动电话生产和射频功率放大器制造,以及W-CDMA基站和国防与航天领域某些无线互连应用的测试工程们也将体验到这一功能强大的测试系统所带来的高速、精确而灵活的特性。

吉时利新一代射频测试仪器旨在满足当今无线技术领域的设计和制造所面临的挑战而特别设计,能够满足今后大部分新技术的测试需求。吉时利射频测试仪器建立在新一代仪器平台的基础上,该平台使用了达到当前最新技术水平的射频与高速DSP技术,以降低测试成本,缩短上市时间。测量精度能确保用户获得最高产品质量和生产成品率,通过提高测试速度、降低设备价格而减少测试成本。

  
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