在YieldManager中引入功能增强的位图模块后，它现在可以提供更加完备的缺陷位图分析。YieldManager收集和存储来自不同的测试装置、对各种参数进行测量后得到的更大量和更加丰富的位图数据集。它拥有一个新的更加强大的图形用户界面，配备了很多新的分析和绘图功能，包括把从多个芯片得到的位图进行堆叠的堆叠密度图，以及按照频率进行彩色编码的行失效与列失效。这些应用和新增加的位图分析功能使得辨识失效位模式，把不重要的缺陷和瑕疵与“致命的”缺陷区分开来，以及查明致命缺陷的原因，从而达到提高出片良率等一系列的工作都更加容易了。

“YieldManager节省工程时间，它通过加速对失效根本原因的分析以及消除在晶圆厂内运行多个客户机-服务器应用软件的必要性，可集中使用资源，” 微捷码公司Fab分析业务部副总裁Ankush Oberai说道。“利用YieldManager新的位图缺陷分析能力，用户可以执行更精确的分析和进一步提高生产力。”